Fachartikel aus electronic fab 2015 - 2026

Highlights der aktuellen Ausgabe:

Prüf- und Testverfahren für Leiterplatten - Ein Überblick

Leiterplatten können komplex sein und hunderte von Bauteilen sowie tausende von Lötverbindungen
umfassen. Die Leiterplattenindustrie und die Hersteller von Produkten, in denen Leiterplatten zum Einsatz kommen, haben sich dieser Herausforderung gestellt, indem sie eine Vielzahl von Prüf- und Testverfahren eingeführt haben, um fehlerhafte Leiterplatten für die Nachbearbeitung zu identifizieren, Prozessrückmeldungen zu generieren und die Zuverlässigkeit der Baugruppe zu maximieren.

Qualität entsteht im Prozess – nicht am Ende

Prozessintegrierte Qualitätssicherung als Stabilitätsfaktor in der Fertigung

Laserverfahren für die anwendungsspezifische Oberflächengestaltung

Smart Surface Technologies: 3D-Texturierung von Freiformflächen mit Ultrakurzpulslaser: Der UKP-Laser erzeugt hochpräzise Mikro- und Nanostrukturen auch auf komplex gekrümmten Geometrien.

Industrielle Produktkennzeichnung – aber wie?

Der Beitrag schildert, wie die Verfahrenswahl den Gesamtprozess beeinflusst.

ESD in der Industrie - Warum elektrostatische Entladung ein unterschätztes Risiko bleibt

Wie Unternehmen durch gezielte ESD-Schutzmaßnahmen Produktionsausfälle vermeiden,
Bauteile schützen und sichere Arbeitsplätze schaffen, erfahren Sie hier.

Qualitätssicherung von Leiterplatten: Messtechnik und Bilddokumentation im Fokus

Der Beitrag will die Bedeutung messtechnischer Untersuchungen und digitaler Bilddokumentation
für die Qualitätssicherung von Leiterplatten darstellen und konkrete Methoden aufzeigen, wie sichtbare und verdeckte Fehler zuverlässig identifiziert, quantifiziert und dokumentiert werden können.

Wie Instandhaltungslücken die Stückkosten unbemerkt erhöhen

Lesen Sie hier, warum klassische Wartungsansätze bei Industrielasern nicht ausreichen – und wie systematische Fehleranalyse, Software und Self-Service-Konzepte verborgene Kostentreiber reduzieren.

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© beam-Verlag Dipl.-Ing. Reinhard Birchel